摘要:
提出一种内存访问越界检测方法,以克服现有方法遇到的多重循环难题. 先识别疑似缺陷点及其依赖区域,再实施多重循环的递推链分析,并推断缺陷触发可能性和路径指导信息,从而实现基于符号执行的缺陷定向检测,最终查出越界缺陷及其触发路径与程序输入. 已实现原型工具,检测了多个开源软件,找到了真实的代码缺陷. 实验结果表明,该方法既避免了盲目路径遍历,又保持了路径敏感和位级跟踪的检测精度,提高了缺陷检测效率和准确度.
中图分类号:
王嘉捷, 蒋凡, 张涛. 一种多重循环程序内存访问越界检测方法[J]. 中国科学院大学学报, 2010, 27(1): 117-126.
WANG Jia-Jie, JIANG Fan, ZHANG Tao. Detection method for memory overrun in multi-loop programs[J]. , 2010, 27(1): 117-126.